National Instruments (Nasdaq: NATI) trägt mit seinen Werkzeugen für Ingenieure und Wissenschaftler zur Bewältigung der weltweit größten technischen Herausforderungen bei. Heute hat das Unternehmen die Produktreihe NI Semiconductor Test Systems (STS) vorgestellt. Es handelt sich dabei um PXI-basierte automatisierte Testsysteme, welche die Prüfkosten für RF- und Mixed-Signal-Geräte senken, indem sie die Integration von PXI-Modulen von NI und anderen Herstellern in Prüfumgebungen der Halbleiterproduktion ermöglichen. Pionieranwender, die ihre konventionellen automatisierten Halbleiterprüfsysteme bereits durch STS ersetzt haben, profitieren von geringeren Produktionskosten sowie einem höheren Durchsatz und können für Charakterisierung und Produktion dieselben Hard- und Softwarewerkzeuge einsetzen. So wird weniger Zeit für die Korrelation von Daten sowie zur anschließenden Markteinführung benötigt.
„Da die Komplexität integrierter Schaltkreise rasant wächst, gewinnen kosteneffiziente automatisierte Halbleiterprüfsysteme, die eine optimale Testabdeckung in Anwendungen von der Designverifizierung bis hin zur Endprüfung bieten, immer mehr an Bedeutung“, so Dr. Hans-Peter Kreuter, Senior Design und Applikations-Ingenieur für Automotive Body Power Produkte bei Infineon Technologies. „Bei Mixed-Signal-Tests übertrifft die neue PXI-basierte Produktreihe STS die Leistung vergleichbarer automatisierter Testsysteme durch eine optimale Testabdeckung bei niedrigen Kosten.“
Die offene, modulare Architektur eines STS gewährt Anwendern Zugang zu den neuesten PXI-Messgeräten, den Anwender klassischer automatisierter Testsysteme aufgrund ihrer geschlossenen Architektur nicht erhalten. Insbesondere bei RF- und Mixed-Signal-Tests macht dies jedoch einen großen Unterschied, da die Anforderungen der aktuellen Halbleitertechnologien häufig die Testabdeckung klassischer automatisierter Testsysteme übersteigen. Durch die Testmanagementsoftware TestStand und die Systemdesignsoftware LabVIEW sind STS mit umfangreichen Funktionen für Halbleiterproduktionsumgebungen ausgestattet. Dazu zählen eine benutzerdefinierbare Bedienoberfläche, die Integration von Handler/Prober, geräteorientierte Programmierung mit Pin-Kanal-Zuordnung, Berichterstellung im standardisierten Testdatenformat und integrierter standortübergreifender Support. Diese Funktionen ermöglichen es, Testprogramme schnell zu entwickeln, auf Fehler zu untersuchen und einzusetzen, was wiederum in einer beschleunigten Markteinführung resultiert. Zusätzlich können STS direkt in eine Prüfzelle in der Halbleiterproduktion integriert werden. Dies ist dank des Prüfkopfs im Zero-Footprint-Design, Standardschnittstellen und Docking-Mechanismen möglich.
„Klassische automatisierte Testsysteme erfordern eine umfangreiche, kostspielige Umrüstung im Testbereich, wenn Generationen von Testsystemen veraltet oder nicht mehr in der Lage sind, neue Testanforderungen zu erfüllen. Die Natur der offenen PXI-Architektur von STS hilft uns dabei, unsere ursprünglichen Investitionen zu bewahren und darauf aufzubauen“, so Glen Peer, Director of Test bei Integrated Device Technology (IDT). „STS bieten die zur Rekonfiguration und Weiterentwicklung unserer Testplattformen benötigte Flexibilität und erfüllen gleichzeitig unsere ständig steigenden Leistungsanforderungen.“
Die Produktreihe STS umfasst drei unterschiedliche Modelle – T1, T2 und T4 –, die jeweils mit einem, zwei oder vier PXI-Chassis ausgerüstet werden können. Aufgrund der unterschiedlichen Größen sowie der einheitlichen Software, Messtechnik und des Verbindungsmechanismus in allen STS-Modellen können Anwender für zahlreiche Anforderungen an Pinanzahl und Flächendichte das optimale Modell finden. Dank ihrer Skalierbarkeit kommen STS von der Charakterisierung bis hin zur Produktion sinnvoll zum Einsatz und sparen dabei nicht nur Kosten, sondern senken auch die Markteinführungszeiten.
Zur Gewährleistung des Kundenerfolgs bietet NI Schulungen, Produkte und Dienstleistungen, die durch das professionelle NI-Serviceteam und das NI Alliance Partner Network weltweit zur Verfügung gestellt werden.
Weitere Informationen zum Halbleiterprüfsystem von NI stehen unter www.ni.com/sts bereit.
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Eva Heigl
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