Pressemitteilung, 28. Januar 2013 – National Instruments (Nasdaq: NATI) stellt den Digitizer NI PXIe-5162 und die aktualisierte Version des NI LabVIEW Jitter Analysis Toolkit vor. Dank einer vertikalen Auflösung von 10 bit und einer Sample-Rate von 5 GS/s können mit dem Digitizer Hochgeschwindigkeitsmessungen mit der vierfachen vertikalen Auflösung gegenüber einem 8-bit-Stand-alone-Oszilloskop durchgeführt werden. Die Bandbreite von 1,5 GHz sowie vier Kanäle in nur einem Steckplatz machen den NI PXIe-5162 zu einem Produkt, das sich für Digitizer-Systeme mit hoher Kanalanzahl im Fertigungstest, in der Forschung und der Charakterisierung eignet. Der Digitizer kann mit NI LabVIEW und dem LabVIEW Jitter Analysis Toolkit eingesetzt werden und enthält eine Bibliothek mit Funktionen speziell für Messungen mit hohem Durchsatz, automatische Jitter-Messungen, Augendiagramme und Phasenrauschmessungen. Das Toolkit ist daher für den Einsatz in automatisierten Validierungs- und Produktionsprüfsystemen geeignet.
Zitat
„Die Kombination aus Messungen mit hoher Geschwindigkeit, hoher Kanalanzahl und hoher Auflösung, die der Digitizer NI PXIe-5162 bietet, ermöglicht es Anwendern von Stand-alone-Oszilloskopen, im Bereich automatisierte Tests mit modularen Messgeräten der nächsten Generation arbeiten zu können“, erklärt Steve Warntjes, Director of Modular Instruments Research and Development bei National Instruments. „Der Einsatz von Hochgeschwindigkeits-Digitizern mit dem LabVIEW Jitter Analysis Toolkit unterstützt Ingenieure dabei, ihre Messsysteme dank der Verarbeitungsleistung moderner PCs anstelle von unveränderlichen Embedded-Prozessoren auf Stand-alone-Oszilloskopen zu beschleunigen.“
Eigenschaften des NI PXIe-5162
•Vertikale Auflösung von 10 bit für einen genaueren Überblick über das Signal
•Vier Kanäle in einem 3-HE-PXI-Express-Steckplatz und bis zu 68 Kanäle in einem PXI-Chassis
•Maximale Sample-Rate von 5GS/s auf einem Kanal bzw. 1,25 GS/s auf vier Kanälen gleichzeitig
Funktionen des LabVIEW Jitter Analysis Toolkit
•Integrierte Funktionen für Taktwiederherstellung, Augendiagramme, Jitter-, Pegel- und Timing-Messungen
•Beispielprogramme für Augendiagramme und Maskentests sowie die Trennung zufälligen/deterministischen Jitters mit Dual-Dirac- und spektrumbasierten Trennmethoden
Weitere Informationen
•Übersichtsseite: www.ni.com/digitizers/d
•Katalogseite: http://sine.ni.com/nips/cds/view/p/lang/de/nid/211146
•Whitepaper: http://www.ni.com/white-paper/14400/de
Leseranfragen:
National Instruments Germany GmbH
Ganghoferstraße 70 b | 80339 München
Tel.: +49 89 7413130 | Fax: +49 89 7146035
info.germany(at)ni.com | ni.com/germany
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