Pressemitteilung, VIP-Kongress, 23./24./25. Oktober 2013 – Der 18. Technologie- und Anwenderkongress „Virtuelle Instrumente in der Praxis“ von National Instruments (NI), bei dem Innovationen und Trends rund um Messtechnik und Automation im Mittelpunkt standen, war auch dieses Jahr wieder ein voller Erfolg. Insgesamt besuchten über 700 Teilnehmer den Kongress von National Instruments am 23. und 24. Oktober 2013 sowie den daran anschließenden Dozenten- und Ausbildertag am 25. Oktober 2013 und zeigten sich von den neuen Technologien und Best-Practices, die von zahlreichen Branchenexperten vorgestellt wurden, begeistert.
Nach der Begrüßung der Teilnehmer zum Auftakt des ersten Kongresstages durch Michael Dams, Director Central Europe, sprach Dr. James Truchard, CEO und Mitbegründer von National Instruments, in seiner Keynote über die große Bedeutung des Graphical System Design, was die logische Folge der wachsenden Rolle der Software sowie der Integration von Hard- und Software ist. Anschließend erläuterte Prof. Alberto Sangiovanni-Vincentelli von der Berkeley University in seiner Keynote mit dem Titel „Die Zähmung des Dr. Frankenstein: Entwickeln von Cyber-Physical Systems“, dass Informationstechnologie sich zunehmend zu einer dezentralen und kollaborativen Umgebung– der Cloud – entwickelt, die reich an Schnittstellen zur physikalischen Welt, dem Internet der Dinge, ist. Er legte dar, wie wichtig Cyber-Physical Systems für die zukunftsträchtigen Bereiche wie Energieeffizienz, Fahr- und Flugzeuge und synthetische Biologie sind.
In einem speziellen Track zum Thema wurde dies später weiter vertieft und auch in einer Podiumsdiskussion mit dem Titel „Cyber-Physical Systems – eine wichtige Basis für Industrie 4.0“ konkrete Anwendungsfelder diskutiert. Teilnehmer waren Dr. Reinhard Hüppe (ZVEI), Christoph Johann (Intel), Dr. Drazen Veselovac (RWTH Aachen), Dr. James Truchard (NI) und Rahman Jamal (NI).
Das Highlight des zweiten Tags war die R&D-Keynote unter dem Motto „All Systems. Go.“ – „Alle Systeme startklar“, durch die Rahman Jamal, Technical and Marketing Director Europe von National Instruments, führte. Auch hier wurde demonstriert, dass sich mit Graphical System Design nicht nur Cyber-Physical Systems, sondern auch intelligente, zukünftige technische Systeme jeglicher Art realisieren lassen. In diesem Zusammenhang stellte NI sogar eine ganze Reihe von Produktneuheiten rund um die RIO-Technologie (Rekonfigurierbare I/O) vor, unter anderem NI LabVIEW 2013, die neue Version der Software für das grafische Systemdesign. Die LabVIEW-RIO-Architektur bildet einen wesentlichen Bestandteil der NI-Plattform für das Graphical System Design – ein modernes Konzept der Entwicklung, Prototypenerstellung und des Einsatzes von Embedded-Systemen zur Steuerung, Regelung und Überwachung. Als weitere Neuheit basierend auf dieser Architektur wurde der neue softwaredesignte Controller NI cRIO-9068 vorgestellt, mit dem Anwender anspruchsvolle Embedded-Steuer-, -Regel- und -Überwachungsaufgaben jeglicher Art schneller bewältigen können. Auch das neu vorgestellte robuste Bildverarbeitungssystem NI CVS-1457RT gehört zu dieser Produktfamilie und weist FPGA-fähige I/O auf. Darüber hinaus wurden vier neue Karten der R-Serie für USB vorgestellt, mit denen Anwender jedes PC-gestützte System durch einen der gängigsten Busse auf dem Markt mit FPGA-Technologie ergänzen können. Auch für die Ausbildung und Lehre gibt es Neues: Speziell für Studenten wurde NI myRIO entwickelt, eine Embedded-Hardware, die eine schnellere und kostengünstigere Entwicklung realer komplexer technischer Systeme ermöglicht. Ein weiteres Highlight war ein Anwendungsbeispiel für den erfolgreichen Einsatz der RIO-Architektur: Ein Team des Lehrstuhls für Flugantriebe der TU München demonstrierte Live-Experimente an einem mobilen Raketenprüfstand. Abgerundet wurde die Keynote durch eine Produktvorstellung aus dem Bereich der klassischen Messtechnik, dem Ethernet-Chassis NI cDAQ-9188XT mit acht Steckplätzen für verteilte oder dezentrale Messanwendungen unter extremen Umgebungsbedingungen.
Um der Bedeutung des Technologietransfers von Forschung und Industrie gerecht zu werden, wurden bereits am zweiten Kongresstag neueste Erkenntnisse rund um das Thema „Forschung und Wissenschaft“ präsentiert, der dritte Kongresstag stand mit dem traditionellen Dozenten- und Ausbildertag dann komplett unter dem Motto „Ausbildung und Lehre“.
Die Besucher konnten sich bei 114 Technologie- und Anwendervorträgen auf dem zweitägigen VIP-Kongress sowie 20 Vorträgen und Workshops auf dem Dozenten- und Ausbildertag zu Produktneuheiten, Trends und Systemlösungen informieren. Die Themenvielfalt reichte dabei unter anderem von Prüfstandsautomatisierung, Fertigungs- und Baugruppentest, Technisches Datenmanagement, Embedded Systemvalidierung und -verifizierung über Maschinenzustandsüberwachung bis hin zu Energieerzeugung und -management sowie HF-Technologien.
Mit dem diesjährigen „Best Paper Award“ wurde der Beitrag „UTP 9065 Run-in Screening Anlage für E-Call-Notrufsysteme“ von der peiker acustic GmbH & Co. KG und der Noffz ComputerTechnik GmbH ausgezeichnet. Stellvertretend für das Autorenteam nahmen Enrique Gutierrez (peiker) und Markus Solbach (Noffz) den Preis entgegen.
Begleitend zum Kongress erschienen die Anwenderberichte gesammelt in einem Tagungsband:
„Virtuelle Instrumente in der Praxis – Begleitband zum Kongress VIP 2013“ wurde vom VDE Verlag mit der ISBN 978-3-8007-3489-4 veröffentlicht.
Weitere Informationen zum Kongress sowie eine Bildergalerie stehen unter vip.german.ni.com zur Verfügung.
Leseranfragen:
PresseKontakt / Agentur:
Anmerkungen:
Kontakt-Informationen:
Firma: National Instruments Germany GmbH
Ansprechpartner: Eva Heigl
Stadt: München
Telefon: 49897413130
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