SENTECH Seminar „Ellipsometrie und Reflektometrie zur Charakterisierung dünner Schichten 2015“
Unter den Gastrednern befanden sich Vertreter von Universitäten sowie unterschiedlicher Unternehmen. Ein Highlight des Seminars war die Präsentation von Brecht Vallaey (Universität Leuven) zum Thema ”Insitsu Messungen mit Ellipsometrie imGasumfeld”.
Besonders interessant waren die Vorträge über die optische Charakterisierung von nanostrukturierten Oberflächen von Bernd Bodermann von der PTB und Ingo Dirnstorfer von NaMLab.
Dr Kärkkänen, SENTECH ALD Spezialistin, stellte den neuen SENTECH ALD Real Time Monitor vor. Die effiziente Optimierungsmöglichkeit von ALD Prozessparametern durch die Nutzung des ALD Real Time Monitors überzeugte das Fachpublikum.
Nach dem Seminar versammelten sich Publikum und Redner, um sich über die praktische Anwendung der vorgestellten Techniken auszutauschen.
Die Funktionsweise des SE 800 PV, einem neuen spektroskopisches Ellipsometer für die Photovoltaik-Forschung, wurde an einem ausgestellten Modell demonstriert.
Die Veranstaltung stellte eine ausgezeichnete Gelegenheit für alle Teilnehmer dar, ihre praktischen Erfahrungen zu teilen und sich zu vernetzen.
Wolfgang Wagenseil, Sales Manager bei SENTECH, organisierte diese Veranstaltung.
Er war begeistert von dem hervorragenden Feedback der Gäste: "Die Teilnehmer konnten etwas über die Anwendungsbereiche und Materialien für SENTECH Ellipsometer und Reflektometer lernen. Die im Anschluss stattfindende Diskussion über die Vorträge wird allen sicher geholfen haben, das erlangte Wissen in Zukunft auch praktisch anwenden zu können. „Wenn Sie mehr über die kommenden SENTECH Seminare wissen möchten, kontaktieren Sie uns hier!
Firma: SENTECH Instruments GmbH
Kontakt-Informationen:
Ansprechpartner: Pia Romanowski
Stadt: Berlin
Telefon: 49 30 63 92 55 20
